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红外电视显微镜
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  “红外电视显微镜”译为未确定词的双语例句
     Application of Infrared Television Microscope for Examining Semiconductor Materials and Devices
     红外电视显微镜在检测半导体材料及器件方面的应用
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     Data Processing for Infrared Television Signals
     红外电视信号的数据处理
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     电视
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     红外测温技术
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     红外医疗
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An experimental arrangement of the infrared television microscope is described. The principles and characteristics of the equipment and its application in examining semiconductor materials and devices are discussed, with special regard to the detection of pin holes and irregular diffusions in integrated circuits or targets of tivicon (Si vidicon).

本文叙述了红外电视显微镜的结构、原理、特性及其在检测半导体材料和器件方面的应用,并着重介绍了检查集成电路和硅靶(硅光导摄象营的二极管阵列靶)的不规则扩散及针孔等内部缺陷的一些例子。

In this paper, silicon wafers are detected nondestructively. It is found that the metal contamination produced in grmding process affects electrical properties of the device, but the method for eliminating metal contamination is presented by etching the wafers chemically. Applications of this process to the semiconductor device manufacture are demonstrated, including the increase in product efficiency and improvement of the ohmic contact.

本文讨论了XCD-H红外电视显微镜对硅片的无损检测,发现硅片在切割、研磨工艺中普遍引入了金属杂质玷污,它是降低器件成品率的主要因素之一.由实验和应用证实了简单、可行的化学腐蚀洁净硅片法去除玷污是十分有效的.

 
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