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   后腐蚀 在 无线电电子学 分类中 的翻译结果: 查询用时:0.067秒
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后腐蚀    
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  post-corrosion
Post-corrosion investigations were performed, employing M?ssbauer spectroscopy, optical microscopy and electrochemical techniques.
      
  post-corrosion
Post-corrosion investigations were performed, employing M?ssbauer spectroscopy, optical microscopy and electrochemical techniques.
      


It is

本文介绍了一种用于近场扫描光学显微镜(NSOM)中的高透过率光纤探针的制作方法.采用缓冲氢氟酸腐蚀低掺杂的普通单模石英光纤,选取适当比例的腐蚀液,可以得到直径、圆锥角均十分理想的针尖.这种方法不需要高掺杂的特殊光纤或是采用先熔拉后腐蚀的复合工艺.针尖经过镀膜后经测量为针尖直径100nm、透过率5.5×10-4.

The spacial distribution of etch pits is studied by selected different etchants such as Nakagawa,Everson,EAg1 and EAg2 etchants.It is found that the etch pits on the two surfaces of(111) samples with thickness 21μm have not one-to-one corresponding relation.These results mean that etch pits on the CdZnTe surface don't origin from threading dislocations in the materials.The etch pits look more like precipitations,based on the spatial location property and the change of EPD during the heat treatment.So it may...

The spacial distribution of etch pits is studied by selected different etchants such as Nakagawa,Everson,EAg1 and EAg2 etchants.It is found that the etch pits on the two surfaces of(111) samples with thickness 21μm have not one-to-one corresponding relation.These results mean that etch pits on the CdZnTe surface don't origin from threading dislocations in the materials.The etch pits look more like precipitations,based on the spatial location property and the change of EPD during the heat treatment.So it may be incorrect to use EPD values to describe the dislocation densities of CdZnTe materials.

文中通过使用Nakagawa、Everson、EAg1和EAg2四种常用腐蚀剂对碲锌镉材料的腐蚀坑空间分布特性进行研究,结果显示,20μm厚的(111)晶片A、B面上的腐蚀坑在空间位置上不存在对应关系,这表明腐蚀坑所对应的缺陷不是具有穿越特性的位错。腐蚀坑的空间局限性特征和热处理后腐蚀坑密度(EPD)减少等实验结果表明,腐蚀坑更有可能对应某种微沉淀物缺陷,将目前常用腐蚀剂的EPD作为碲锌镉材料的位错密度是缺乏实验依据的。

 
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