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   光电管 在 物理学 分类中 的翻译结果: 查询用时:0.197秒
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光电管
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  “光电管”译为未确定词的双语例句
    The photodiode output profile S1, S2 and S3 stoken lines were observed.
    用光电管观察到S_1、S_2和S_3斯托克斯线输出。
短句来源
    The perpetual laser damage effects of silicon PIN photoelectric diodes and silicon avalanche photodiodes irradiated by a laser of 1.06μm or 0.53μm wavelength are studied.
    本文研究了1.06μm和0.53μm激光对硅pin光电二极管以及硅雪崩光电管的永久性损伤效应,测出了损伤阈值。
短句来源
    An Avalanche Photodiode Bias Control Circuit
    雪崩光电管偏压控制电路的研制
短句来源
    PLOTTING CHARACTERISTIC CURVES OF PHOTOVALVE BY CUBIC SPLINE
    利用三次样条函数绘制光电管的I-U特性曲线
短句来源
    This article focussed on how to deal with the operational problem of zero set and other troubles occurred to 751G and 721,which are widely used instruments for science reserch and production spectrscopic analysis,from cheking up source of light,checking up photodector and sensitivity. To each situation,introduced experience for trouble shooting.
    就科研和生产过程中,根据实验室常规分析仪器721、751G光电比色计使用时遇到的校正调零以及各种故障,从检查光源光电管和灵敏度入手,就处理故障的经验作以介绍。
短句来源
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A simple method for determining absolute sensitivity of phototube is described.

本文描述了测定光电管绝对灵敏度的一种简单方法.

Stimulated Raman scattering (SRS) experiments in hydrogen were performed with a eollimated beam from an X-ray preionization discharge XeCl laser operating at 308 nm. The photodiode output profile S1, S2 and S3 stoken lines were observed. The reduction, of beam spread angle and pulse duration of SRS were analysed theoretically.

实验研究了X射线预电离XeCl准分子激光器在氢气中的受激喇曼散射。用光电管观察到S_1、S_2和S_3斯托克斯线输出。对受激喇曼散射导致光束发散角减小和脉宽变窄进行了理论分析。

The perpetual laser damage effects of silicon PIN photoelectric diodes and silicon avalanche photodiodes irradiated by a laser of 1.06μm or 0.53μm wavelength are studied.The laser damage thresholds of the detectors are experimentally measured.The main reason of causing the perpetual damage are the laser heat singe on the PN connect of photoelectric diodes.The damage thresholds are relative to the laser wavelength,pulse width and the photodiod structure.

本文研究了1.06μm和0.53μm激光对硅pin光电二极管以及硅雪崩光电管的永久性损伤效应,测出了损伤阈值。实验发现,光电探测器的PN结受到激光热烧伤是造成其永久性损伤的重要因素,损伤阈值的大小与激光波长、脉冲宽度以及光电探测器结构有关。

 
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